白光干涉物镜，以非接触、纳米级精度实现表面三维形貌的精密测量。是半导体晶圆检测、精密加工测量、材料表面分析与光学元件质量控制的理想工具，为科研与工业检测提供强大支撑。
行业应用
半导体制造领域
在该领域，波长显微物镜主要用于缺陷分析、失效定位和工艺监控。
应用场景：
缺陷检测与分类：识别和分类晶圆表面的颗粒、划痕、晶体缺陷等。高分辨率和无颜色伪影确保了缺陷特征的准确识别。
失效分析：在故障芯片中定位短路、断路点。平场特性使得在超大视场内搜索异常区域时，边缘和中心同样清晰。
关键尺寸测量：对集成电路的线宽、孔径等进行亚微米级的精确测量。卓越的像质是测量准确性的基础。
通过红外物镜进行内部观测：专门的平面复消色差红外物镜可用于对封装后的芯片进行非破坏性内部检查，因为硅材料对红外光是透明的。
医疗诊断领域
波长显微物镜其在病理学和细胞学诊断中，确保了细胞形态的真实还原和诊断的准确性，尤其适用于数字化病理扫描。
应用场景：
组织病理学：观察组织切片中细胞的形态、排列、核分裂象等。平场特性使得整张切片在扫描成像时所有区域都清晰，无边缘�：�，便于计算机进行全片分析和医生远程诊断。
细胞病理学：用于宫颈涂片、体液细胞学检查。高NA值和复消色差校正能清晰分辨细胞核的染色质细节，这是判断细胞良恶性的关键。
血液学：观察血涂片，区分各类白细胞的细微结构，进行细胞计数和形态分析。
工业检测领域
在工业领域，波长显微物镜用于材料分析、质量控制和无损检测。
应用场景：
材料科学：分析金属、陶瓷、高分子材料的晶粒结构、相组成和缺陷。复消色差校正对于在偏光下观察各向异性材料至关重要。
精密制造：检测精密零部件（如刀具、轴承）的磨损、微裂纹和表面粗糙度。高分辨率能发现早期失效征兆。
电子行业：检查PCB板的焊点质量、线路完整性。平场物镜便于对整块电路板进行自动扫描和测量。
- 高端系列
| 产品编号 | 型号 | 打开列表 | 货期 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1J9000000001 | NIR-50X-95-NA0.67-10 | 打开列表 | 50X | 0.67 | 95 | 10 | 定制 |
| 1J9000000002 | K02 | 打开列表 | 200 | 20 | 20 | N/A | 定制 |
| 1J9000000003 | K03 | 打开列表 | 300 | 30 | 30 | N/A | 现货 |
| 1J9000000004 | K04 | 打开列表 | 400 | 40 | 40 | N/A | 现货 |
| 1J9000000005 | K05 | 打开列表 | 500 | 50 | 50 | N/A | 定制 |
| 1J9000000006 | K06 | 打开列表 | 600 | 60 | 60 | N/A | 定制 |
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